Beckman Coulter LS 13 320 XR 21 CFR Part 11 공식 페이지
21 CFR Part 11, ISO 13320, API/excipients raw 소재 품질관리, individual user/password, secure PDF 데이터 내보내기, audit trail, automated SOP parameters 확인. 자료입니다. 장비를 바로 고르기보다 시험 목적, 시료 조건, 표준, 설치 조건을 먼저 정리해 상담 품질을 높이는 데 사용할 수 있습니다.
자료는 장비 검토 전 조건을 정리하기 위한 참고용입니다. 최종 모델, 사양, 공급 조건은 상담 요청 후 확인해 드립니다.
Beckman Coulter LS 13 320 XR B98100 공식 제품 페이지
LS 13 320 XR multiwavelength 레이저 diffraction, 10 nm~3,500 마이크로미터, PIDS 450/600/900 nm, emulsions/suspensions/powders, PDF/Excel reporting 확인. 자료입니다. 장비를 바로 고르기보다 시험 목적, 시료 조건, 표준, 설치 조건을 먼저 정리해 상담 품질을 높이는 데 사용할 수 있습니다.
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Beckman Coulter LS 13 320 XR Capabilities 공식 페이지
Advanced 레이저 diffraction, PIDS, non-spherical 및 sub-micron 입자 sizing, polarization effect, correctly measured 10 nm 검토 경로 확인. 자료입니다. 장비를 바로 고르기보다 시험 목적, 시료 조건, 표준, 설치 조건을 먼저 정리해 상담 품질을 높이는 데 사용할 수 있습니다.
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Beckman Coulter LS 13 320 XR Features 공식 페이지
PIDS, real analytical data down to 10 nm, high-resolution measurements up to 3,500 마이크로미터, stored 시험법 업무 흐름, results under 60 seconds 확인. 자료입니다. 장비를 바로 고르기보다 시험 목적, 시료 조건, 표준, 설치 조건을 먼저 정리해 상담 품질을 높이는 데 사용할 수 있습니다.
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