
JCM-7000 NeoScope Benchtop SEM
JEOL · Benchtop SEM / EDS 분석 시스템
foreign 소재 분석, 품질 assurance SEM/EDS 스크리닝, 코팅/cross-section 및 fracture observation, polymer/mineral/식품/plant low-vacuum imaging 용도로 장비를 검토하시는 품질보증/이물분석 담당자, 소재/금속 분석실, 고분자/식품/광물 연구실, 공동기기원 담당자께 먼저 확인해 볼 만한 후보입니다. SEM/EDS 검토, low-vacuum SEM 검토 경로, foreign 소재 분석 검토 경로 기준과 Zeromag smooth transition from 광학식 to SEM imaging, Live 분석 enables EDS elemental 분석 during SEM observation, Live Map real-time element 분포 및 Live 3D surface topography 검토 경로, High vacuum for conductive specimens 및 low vacuum for specimens without pretreatment을 상담에서 함께 확인해 드립니다.