
ContourX-200 Optical Profilometer
Bruker · 3D 광학식 profilometer
surface roughness/topography, step height와 etch depth, 필름 thickness와 post-CMP flatness, MEMS/semiconductor bump height와 coplanarity 용도로 장비를 검토하시는 반도체/MEMS 공정, 정밀가공 품질관리, 마찰마모/tribology 연구, 광학 부품 제조 담당자께 먼저 확인해 볼 만한 후보입니다. surface roughness 검토, step height 검토, white light interferometry 검토 경로 기준과 Benchtop 광학식 profilometer with white light interferometry, Fast repeatable non-contact 3D surface metrology, Sub-nanometer 수직 resolution, Robust on 0.05 percent to 100 percent reflectivity surfaces을 상담에서 함께 확인해 드립니다.